特點 | 優勢 |
超低(dī)噪聲（6430 為(wèi) 0.4fAp-p，6517B 和(hé) 6514 <1fA） | 确保對(duì)設備和(hé)材料研究中常見(jiàn)的(de)超低(dī)電(diàn)流實現(xiàn)更精确的(de)測量。 |
高(gāo)達 1016Ω 的(de)電(diàn)阻測量 (6517B) | 精确測量超高(gāo)電(diàn)阻材料和(hé)絕緣體(tǐ)。 |
遠(yuǎn)程預放(fàng)大(dà)器(qì)可(kě)以位于信号源 (6430) | 允許直接或短(duǎn)暫連接到(dào)信号源，最大(dà)限度地(dì)減少(shǎo)電(diàn)纜噪聲等噪聲源。 |
低(dī)輸入端壓降 | 消除影(yǐng)響低(dī)電(diàn)流測量精度的(de)誤差。 |
內(nèi)置 ±1kV 電(diàn)壓源，提供掃描功能(néng) (6517B) | 簡化(huà)了(le)執行(xíng)洩漏、擊穿和(hé)電(diàn)阻測試，以及對(duì)高(gāo)電(diàn)阻率材料執行(xíng)體(tǐ)積 (Ω-cm) 和(hé)表§面電(diàn)阻率 (Ω/square) 測量的(de)過程。 |
适用(yòng)于測量試樣材料的(de)體(tǐ)積和(hé)表面電(diàn)阻的(de)選配 8009 型電(diàn)阻率測試盒 (6517B) | 防止您接觸潛在危險電(diàn)壓 — 打開(kāi)測試盒蓋子(zǐ)時(shí)自(zì)動關閉儀器(qì)的(de)電(diàn)壓源。 |
即使在低(dī)電(diàn)平信号上(shàng)也(yě)能(néng)實現(xiàn)高(gāo)測量速度 | 支持更快(kuài)的(de)低(dī)電(diàn)平元器(qì)件(jiàn)測試。 |
可(kě)編程數(shù)字 I/O 和(hé)內(nèi)置接口 | 簡化(huà)構建自(zì)動化(huà)元器(qì)件(jiàn)測試系統的(de)過程。 |
